| EN
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Test Order 测试顺序 |
Test 测试项目 |
Test procedure 测试程序 |
Condition of test specimens 试样状态 |
Test criteria 判定标准 |
| 1 |
Low level contact resistance 低阶接触阻抗 |
EIA-364-23 (termination of connector or socket to board carrier or cable shall be included in measurements) EIA-364-23(测试中应包含连接器终端或插座到板载或电缆。 |
Mated 匹对的 |
None （base line measurements） 没有 （基础测量） |
| 2 |
Durability (preconditioning) 插拔耐久 （预处理） |
EIA-364-09 (perform 5 unplug/plug cycles if the application requires up to 25 over the life of the connector or socket; 20 cycles if the application requires 26-200; or, 50 cycles if the application requires 201 or greater) EIA-364-09(如果连接器或插座测试使用寿命内最多需要插拔耐久25次的，则执行插拔耐久5次；如果测试需要插拔耐久26-200次的，则执行插拔耐久20次；如果测试需要插拔耐久201次或以上的，则执行插拔耐久50次。 |
No evidence of physical damage 没有物理损伤 |
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| 3 |
Temperature life 温度寿命 |
EIA-364-17, method A (see table 8 for durations and temperatures) EIA-364-17，方法A(持续时间和温度见表8) |
Mated 匹对的 |
None 没有 |
| 4 |
Low level contact resistance 低阶接触阻抗 |
EIA-364-23 (termination of connector or socket to board carrier or cable shall be included in measurements) EIA-364-23(测试中应包含连接器终端或插座到板载或电缆。 |
Mated 匹对的 |
Change in measurements evaluated against criteria specified by user 根据用指定的标准判定测量的变化值 |
| 5 |
Reseating 复位 |
Manually unplug/plug the connector or socket. Perform 3 such cycles. 手动插拔连接器或插座。插拔3次。 |
No evidence of physical damage 没有物理损伤 |
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| 6 |
Low level contact resistance 低阶接触阻抗 |
EIA-364-23 (termination of connector or socket to board carrier or cable shall be included in measurements) EIA-364-23(测试中应包含连接器终端或插座到板载或电缆。 |
Mated 匹对的 |
Change in measurements evaluated against criteria specified by user 根据用指定的标准判定测量的变化值 |
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Field temperature and field life 使用温度与使用寿命 |
Test temperature 测试温度 | ||||
| 90°C | 105°C | 115°C | |||
| Test duration, hours 持续测试，小时 | |||||
| 57°C for 3 years（57度使用3年） | 192 | 24 | 8 | ||
| 57°C for 5 years（57度使用5年） | 288 | 48 | 12 | ||
| 57°C for 7 years（57度使用7年） | 394 | 58 | 17 | ||
| 57°C for 10 years（57度使用10年） | 552 | 72 | 24 | ||
| 60°C for 3 years（60度使用3年） | 288 | 48 | 12 | ||
| 60°C for 5 years（60度使用5年） | 456 | 72 | 24 | ||
| 60°C for 7 years（60度使用7年） | 610 | 91 | 34 | ||
| 60°C for 10 years（60度使用10年） | 840 | 120 | 48 | ||
| 65°C for 3 years（65度使用3年） | 600 | 96 | 24 | ||
| 65°C for 5 years（65度使用5年） | 960 | 120 | 48 | ||
| 65°C for 7 years（65度使用7年） | 1306 | 165 | 58 | ||
| 65°C for 10 years（65度使用10年） | 1848 | 240 | 72 | ||
| 75°C for 3 years（75度使用3年） | - | 333 | 90 | ||
| 75°C for 5 years（75度使用5年） | - | 533 | 143 | ||
| 75°C for 7 years（75度使用7年） | - | 726 | 193 | ||
| 75°C for 10 years（75度使用10年） | - | 1008 | 265 | ||
| 85°C for 3 years（85度使用3年） | - | 528 | 144 | ||
| 85°C for 5 years（85度使用5年） | - | 840 | 240 | ||
| 85°C for 7 years（85度使用7年） | - | 1062 | 271 | ||
| 85°C for 10 years（85度使用10年） | - | 1584 | 432 | ||
| 95°C for 3 years（95度使用3年） | - | - | 462 | ||
| 95°C for 5 years（95度使用5年） | - | - | 833 | ||
| 95°C for 7 years（95度使用7年） | - | - | 1146 | ||
| 95°C for 10 years（95度使用10年） | - | - | 1607 | ||
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NOTES
1 Test durations pertaining to field temperatures of 57°C, 60°C, 65°C and 75 °C. are based on the assumption that the contact spends its entire field life at that temperature, whereas those associated with a field temperatures of 85°C and 95°C are based on the assumption that the contact spends 1/3 of its field life at that temperature and its remaining life at 40°C or less. 2 The materials used in the construction of the connector or socket and in the components of the test vehicle (e.g., printed circuit cards, wiring, etc.) should be considered when selecting a test temperature. 说明：
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